扫描电子显微镜-SIGMA

Sigma 系列产品

高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

用于清晰成像的灵活探测
•利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
•利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
•利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
自动化加速工作流程
•4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
•首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
•接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。
高级分析型显微镜
•将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
•在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
•获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。